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常見的方法有針式轉移,絲網印刷和用點膠機壓力注射。
常用熱固化和光固化的方法來固化粘接劑
一樣多,因為所有的回流焊都分為預熱,保溫,加熱和冷卻四個區。
預熱區的升溫速率為1.3-1.5度/S,在60-90S內升至150度,
保溫區的溫度是保持150-170度40-60S,
加熱區是要從170度到240度10-15S,然后再經過冷卻區。
粘接劑不足會引起強度不足,組件固化后會引起掉片,粘接劑過量會引起貼片膠漫流而污染焊盤,
還有就是貼片使組件偏移,固化后組件引腳上浮而導致進入波峰焊后錫料進入焊盤而引起短路。
會使貼片膠出現針孔和氣泡。
63%Sn,37%Pb,熔點和共晶點為183攝氏度。
6.1 溫度曲線不正確,通常是升溫速度過快而導致溶劑不能及時揮發完全。
6.2 焊膏的質量問題,焊膏中的金屬含量過低會導致焊劑的成份過多。
6.3 錫膏從冰箱取出未能恢復到室溫。
6.4 模板上用完的錫膏用完后未能另行處理。
6.5 環境溫度和濕度不符合要求。
6.6 貼片機Z軸壓力過大。
6.7 模板厚度或開口尺寸過大。
6.8 使用的焊膏粉粒的粒徑分布是什么狀況?為什么在細間距工藝中必須改變這種粒徑分布狀況?
焊料粉粒的粒徑一般控制在25um-45um,過粗的粒徑會導致焊膏的粘結性能變差,
隨著細間距工藝的出現,將越來越多的使用20um以下的合金粉粒。
一般要求粉粒中的氧含量不超過100X10-6,否則會引起飛珠現象。
如不儲存在室溫下的話,會使焊料中進入小蒸氣,會引起錫珠和飛濺現象,
而粘接劑不儲存在室溫下的話,會使粘性下降而引起拉絲,拖尾而污染焊盤。
使用的最廣的是漏印板和金屬刮刀,因為絲網制作的漏印板其窗口開口面積要被絲網本身占用一部分,
開口率達不到100%,絲網模板的壽命不及金屬模板,所以現在己被淘汰,
如用橡皮刮刀的話,其刮刀由于其材質過軟,容易嵌入金屬模板的孔中,并將孔中的焊膏擠出,從而造成印刷缺陷,
而金屬刮刀從較深的窗口到超細間距的印刷均具有一致的優越性,大大減少了焊料的橋接和漏印。
蝕刻形成漏印的主要特點是存在側腐蝕,所以窗口的光潔度不夠,尤其對不銹鋼材料效果較差,
而激光刻是當窗口尺寸密集的時候,會出現局部高溫,熔融的金屬會跳出小孔,
從而影響鋼板的光潔而形成漏印。電化形成 的鋼板只適合在細間距器件中使用。.
標準是人工加速老化處理。
1、IEC68-2-20,1-4H的簡單蒸氣試驗。
2、IEC326-2A,改進后的蒸氣試驗時間為80分鐘。
3、IEC68-2-2試驗,干燥加熱試驗(空氣中溫度為155度,時間為2,6,72,96H)的試驗裝置,
從廣義上講,元器件的可焊性還應包括元器件的耐焊接熱能力。
1、 錫膏-再流焊,2、貼片-再流焊-波峰焊,3、貼片-再流焊-翻轉-貼片-再流焊-波峰焊。
目前因為前兩種中要求的設備較多,波峰焊中缺點較多,難以實現高密度組裝,
而第三種充分利用板子的雙面空間,是實現安裝面積最小化的方法之一,所以使用較廣。
不是,必須重新設定溫度曲線。
采用對流的媒介大都是空氣或氮氣,早期不采用對流的IR爐紅外線是不能穿逶物體的,
使得陰影內的溫度低于它處,由于器件本體的覆蓋,引肢處的升溫速度要明顯低于其它部位的焊點,產生陰影效應,
應注意風速不能過大,過大的風會造成組件移位,
同時,在高溫下,熱風的流動也會助長焊點的氧化,風速控制在1.0-1.8M/S之內。
因為VPS的關鍵要選擇適合的熱轉換介質,它必須具有高沸點,具有高的化學穩 定性和熱穩定性,
應與目前常用的電子材料有良好的潤濕性, 制造成本要低,而FC-70介質基本能滿足上述要求,
但在長時間的高溫下,仍會發生低級別的分解,
特別是FC-70會分解出氫氟酸(HF)以及各種多氟烯類物質和對人體有害的物質,
因此限制了汽相法在SMT生產中的應用,除非能研制出一種能取代FC-70的物質。
涉及的問題很多,一般分為組件的可焊性,工藝參數,設備的問題 ,其中組件的可焊性較為主要,
包括焊料的潤濕時間,PCB停留時間,預熱溫度,波峰高度,傳送傾角,焊料的純度,還必須和工藝參數相互協配合。
焊盤設計不合理,預熱溫度低,錫鍋溫度低,焊錫含銅量過高和助焊劑失效。
并不能避免問題,氮氣只是增加焊料的可焊性。
因為片狀瓷介電容大多數為多層結構,其端電極,金屬電極和介質三者的CTE不同,
而鎳合金的CTE和導熱性能雙不高,所能鎳陰擋層對它比較重要。
焊接中升溫速度過快,預熱溫度過低,最主要的原因應該是電容器本身是多層結構。
20世紀80年代,美國才推出實用的ILS7000,國內研究出的能用于焊接,
但精度不高,激光再流焊系統應包括激光發生器,
光路系統以及支撐PCB的精密工作臺和微機控制系統。
激光焊有熱應力小,SMA受損小,耗能小,精度高等優點。
代表表面絕緣電阻測試法,圖標為Y型和梳型。Y型圖適用于片狀元件,梳型圖適用于PLCC,SOIC器件,
錫膏中殘留焊劑存在于器件與PCB的夾縫中和BGA的焊點的電路板上要打上SIR圖標,打在電路板的工藝邊。
會導致可靠性降低,不利于測試。目測法,溶劑萃取液測試法,表面絕緣電阻測試法。
橋接,上浮,短路,開路,錫珠。
回流焊的溫度曲線要重新調整,最好用溫度傳感器測試一下細距元器件各點的溫度,
因為細距元器件過回流爐容易產生陰影效應,
錫膏的質量問題最為關鍵,焊膏粉粒的粒徑要控制在20um以下。
通常能解決細間距工藝中的橋連,錫珠等問題,國為BGA的安裝高度低,
引腳間距大,共面性好,組裝密度高,電氣性能好等,
然而BGA焊后檢查和維修困難,必須用X射線透視或X射線分層檢測而且易吸濕。
并不能避免問題,氮氣只是增加焊料的可焊性。
因為片狀瓷介電容大多數為多層結構,其端電極,金屬電極和介質三者的CTE不同,
而鎳合金的CTE和導熱性能雙不高,所能鎳陰擋層對它比較重要。
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